COG导电粒子压痕检测
COG导电粒子压痕检测
导电粒子压痕检测，行业内又称之为COG，主要是针对LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕等粒子的爆破检查，主要检测爆破粒子的被压状态，是否压力过重，过轻，过少等。
导电粒子的粒径分布和分布均匀性会对异方导电特性有所影响。通常，导电粒子必须具有良好的粒径均一性和真圆度，以确保电极与导电粒子间的接触面积一致，以维持相同的导电电阻，同时避免部分电极为接触到导电粒子，导致开路的发生。常见的粒径在3~5μm之间，太大的导电粒子会降低每个电极的粒子数，同时也容易造成相邻电极导电粒子接触而短路的情形；太小的导电粒子容易形成粒子聚集的问题，造成粒子分布密度不均。
